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適用范圍：

l 適合于檢測燈等有復(fù)雜構(gòu)造的產(chǎn)品。

l 檢測高密度的塑料產(chǎn)品，如隱形眼鏡等。

l 檢測光學晶體，如氟化鈣（螢石）等。

參數(shù)： 

規(guī)格:

1、偏光應(yīng)力儀光場亮度≥120cd/m2   （熒光燈30W）

2、偏光應(yīng)力儀偏振元件任何一點的偏振度大于等于百分之九十九

3、該款應(yīng)力儀偏振場200*200mm

4、偏光應(yīng)力儀構(gòu)造：檢偏鏡和起偏鏡之間分別置入1/4波片及全波片（波長為565nm），   

波片的慢軸與起偏鏡的偏振平面成90度

5、檢偏鏡最上面有旋轉(zhuǎn)角度的測量裝置（刻度值為1度，最大測量范圍為180度）

檢測方法：

1. Crossed Nicols 觀測法

2.Sensitive Color Method 感光色檢測法

3. SenarmonMethod 補償法

Senarmont補償法可以進行應(yīng)力定量分析檢測。打開電源，未放樣品整個視野范圍是黑褐色的，放入樣品，不旋轉(zhuǎn)檢偏鏡，觀測出最亮點即為應(yīng)力最大點。旋轉(zhuǎn)檢偏鏡上的刻度盤，直至最亮點變成黑褐色，記錄此時刻度盤旋轉(zhuǎn)的角度及該點的厚度，即可用公式換算出應(yīng)力值。

計算公式：標準光延遲nm/mm＝（3.14nm*檢偏鏡旋轉(zhuǎn)角度）/被測點的厚度mm

          應(yīng)力Mpa=光程差nm/(被測點的光路長cm * 光彈系數(shù)（nm/cm/Mpa)）